附錄　E

(規(guī)范性附錄)

時(shí)基線和靈敏度設(shè)定

E．1　概述

使用脈沖波技術(shù)，應(yīng)在示波屏上設(shè)置超聲時(shí)基線。一束透射聲束的聲程距離、深度、水平距離、或者扣除前沿的水平距離的坐標(biāo)，見(jiàn)圖E．1。除非另有注明，下述所提及設(shè)定時(shí)基線工藝是指聲束傳播的聲程距離(一個(gè)回波等于兩次的傳播路徑)。

時(shí)基線的設(shè)定應(yīng)使用兩個(gè)已知時(shí)間或距離的參考回波進(jìn)行。根據(jù)預(yù)定的校準(zhǔn)值，能得知各自的聲程，深度，水平距離，或者扣除前沿的水平距離。該技術(shù)能夠確保通過(guò)延時(shí)塊(如探頭楔塊)的聲束傳播自動(dòng)校準(zhǔn)。假設(shè)參考試塊聲速可知，在該情況下設(shè)備的電子時(shí)基線通過(guò)一個(gè)回波就可以校準(zhǔn)。在時(shí)基線范圍內(nèi)的兩參考回波之間距離可等同于實(shí)際距離。運(yùn)用時(shí)基線掃描控制旋鈕將最高回波的波的前沿對(duì)應(yīng)于屏幕上預(yù)定的水平刻度值。準(zhǔn)確的校準(zhǔn)可用一個(gè)檢查信號(hào)來(lái)驗(yàn)證，檢查信號(hào)不一定與之前校準(zhǔn)設(shè)置的信號(hào)顯示在示波屏的同一位置，但能顯示在示波屏適當(dāng)?shù)奈恢谩?/span>

E．2　參考試塊和參考反射體

對(duì)于鐵素體鋼的檢測(cè)建議使用GB／T 19799．1中規(guī)定的l號(hào)校準(zhǔn)試塊或GB／T 19799．2中規(guī)定的2號(hào)校準(zhǔn)試塊。只要已知參考試塊或被檢工件本身的探測(cè)面至反射體的聲程距離就可以用其來(lái)校準(zhǔn)時(shí)基線。參考試塊與被檢工件的聲速誤差應(yīng)在±5％之內(nèi)，否則應(yīng)進(jìn)行修正。

E．3　直探頭調(diào)節(jié)技術(shù)

E．3．1單反射體調(diào)節(jié)

參考試塊的厚度不得超過(guò)時(shí)基線設(shè)定范圍。可從1號(hào)校準(zhǔn)試塊厚度為25mm或100mm處得到合適的底面回波，或從2號(hào)校準(zhǔn)試塊的12.5mm處得到。也可選擇已知厚度的被檢工件，試塊與工件應(yīng)有相同的平表面或曲面，且試塊與工件的聲速應(yīng)相同。

E．3．2多反射體調(diào)節(jié)

要求參考試塊(或組合試塊)應(yīng)有不同聲程的兩個(gè)反射體(如橫孔)，重復(fù)地不斷移動(dòng)探頭位置找到每個(gè)反射體各自的最高回波；再通過(guò)調(diào)節(jié)時(shí)基線掃描控制旋鈕將相鄰兩個(gè)反射體的回波設(shè)置到準(zhǔn)確的位置來(lái)進(jìn)行時(shí)基線校準(zhǔn)。

E．4　斜探頭調(diào)節(jié)技術(shù)

E．4．1試塊圓弧面調(diào)節(jié)

用1號(hào)校準(zhǔn)試塊或2號(hào)校準(zhǔn)試塊的圓弧面來(lái)設(shè)定時(shí)基線。

E．4．2縱波探頭調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)換

橫波探頭時(shí)基線可通過(guò)縱波探頭在1號(hào)校準(zhǔn)試塊的91mm厚度處設(shè)置，相對(duì)于住鋼中50mm的橫波聲程。完成時(shí)基線設(shè)定之后，通過(guò)檢測(cè)時(shí)所用的探頭和已知聲程距離的反射體，僅用零點(diǎn)校準(zhǔn)旋鈕就可以來(lái)進(jìn)行時(shí)基線的設(shè)置。

E．4．3參考試塊調(diào)節(jié)

這與E．3．2中針對(duì)直探頭的調(diào)節(jié)原理相似。

然而要達(dá)到足夠精確，就必須找到最高回波，在試塊表面標(biāo)出聲束入射點(diǎn)，然后用手工方法測(cè)量反射體與相應(yīng)的標(biāo)記之間的距離。對(duì)所有后面的時(shí)基線校準(zhǔn)，探頭應(yīng)在這些標(biāo)記重新定位。

E．5　斜探頭時(shí)基線的設(shè)置

E．5．1平面

平面工件檢測(cè)時(shí)，深度和水平距離主要取決于給定的聲束角度，可參照比例圖或以下公式：

深度(t)：t=s·cosat

水平即離(a)：a=s·sinat

扣除前沿的水平距離(a￠)：a￠=(s·sinat)-x

E．5．2曲面

E5．1中闡述的時(shí)基線設(shè)置的原理在這里仍適用，但深度和水平距離不再是線性的。非線性標(biāo)度比例的建立，可在聲程距離比例圖上通過(guò)一系列的位置來(lái)繪出，或由適當(dāng)的公式計(jì)算出，或可從曲面試塊上得到一系列反射體的最高回波來(lái)確定標(biāo)度，中間值可通過(guò)插值法獲得。見(jiàn)圖E．2。

E．6　靈敏度設(shè)定和回波高度評(píng)定

E．6．1概述

在校準(zhǔn)完時(shí)基線之后，超聲設(shè)備的靈敏度(增益調(diào)節(jié))應(yīng)按以下任一技術(shù)進(jìn)行設(shè)定：

a)單反射體技術(shù)

當(dāng)評(píng)定的回波與參考反射體回波的聲程距離相同，即可利用單個(gè)參考反射體作參考。

b)距離波幅曲線(DAC)技術(shù)

DAC曲線是通過(guò)得到參考試塊上一系列不同聲程的相同反射體(例如：橫孔或平底孔)回波來(lái)繪制的。

c)DGS技術(shù)

該技術(shù)是使用一系列理論上與聲程、增益、與聲束軸線垂直的平底孔尺寸相關(guān)的導(dǎo)出曲線。

E．6．2角度影響

當(dāng)利用斜探頭二次波(例如：在半跨距之后)探測(cè)曲面工件時(shí)，由底面引起的入射角度的變化(例如角度影響)應(yīng)予以考慮。當(dāng)探頭在外圓面對(duì)筒體型工件進(jìn)行掃查時(shí)，由于內(nèi)表面是曲面，經(jīng)內(nèi)表面反射之后將使聲束角度變大。反之，當(dāng)探頭在內(nèi)圓面進(jìn)行掃查時(shí)，由于外表面是曲面的原因，經(jīng)外表面反射之后將使聲束角度變小。

E．6．3距離波幅曲線(DAC)技術(shù)

制作DAC曲線所使用的參考試塊，應(yīng)具有一系列不同聲程距離的反射體，且試塊上反射體的深度應(yīng)大于被檢工件的高度。表E．1詳細(xì)給出間距、試塊最小尺寸和反射體的具體要求。

對(duì)不同回波波高的評(píng)價(jià)，按以下要求執(zhí)行：

如果回波波高通過(guò)增加XdB到達(dá)參考線時(shí)，回波波高記錄為(參考水平－X)dB。如果回波波高通過(guò)降低YdB到達(dá)參考線時(shí)，回波波高記錄為(參考水平+Y)dB。